Горшков Александр Викторович

Выходные данные статьи: Горшков А.В. Неисправности и методика диагностирования внешних запоминающих устройств // Студенческий вестник: электрон. научн. журн. 2019. № 45(95). URL: https://studvestnik.ru/journal/stud/herald/95 (дата обращения: 23.02.2025).

Журнал: Научный журнал «Студенческий вестник» № 45(95)

Секция: 34. Информационные технологии.

Статус статьи: Статья опубликована