Пиганов Михаил Николаевич

Статья: ANALYSIS OF FEATURES, TYPES, CAUSES AND MECHANISMS OF CMOS INTEGRATED CIRCUITS FAILURES

Авторы: Мелешенко Дмитрий Юрьевич, Пиганов Михаил Николаевич

Выходные данные статьи

Выходные данные статьи: Мелешенко Д.Ю., Пиганов М.Н. ANALYSIS OF FEATURES, TYPES, CAUSES AND MECHANISMS OF CMOS INTEGRATED CIRCUITS FAILURES// Proceedings of the XIX International Multidisciplinary Conference «Prospects and Key Tendencies of Science in Contemporary World». Bubok Publishing S.L., Madrid, Spain. 2022. DOI:10.32743/SpainConf.2022.5.19.340141

Конференция: XIX International Multidisciplinary Conference “Prospects and Key Tendencies of Science in Contemporary World”

Секция: Секция 14. Технические науки

Статус статьи: Статья опубликована

Скачать сборник статей конференции

Статья: Исследование электрофизических характеристик тонкоплёночных микросборок

Авторы: Мелешенко Дмитрий Юрьевич

Научный руководитель: Пиганов Михаил Николаевич

Выходные данные статьи

Выходные данные статьи: Мелешенко Д.Ю. Исследование электрофизических характеристик тонкоплёночных микросборок // Студенческий вестник: электрон. научн. журн. 2021. № 20(165). URL: https://studvestnik.ru/journal/stud/herald/165 (дата обращения: 21.11.2024).

Журнал Научный журнал «Студенческий вестник» № 20(165)

Секция: 43. Радиотехника, электроника.

Статус статьи: Статья опубликована